1.1 半导体基础知识

1.1.1 本征半导体

  1. 自然界中很容易导电的物质称为导体,金属一般都是导体。
  2. 有的物质几乎不导电,称为绝缘体,如橡皮、陶瓷、塑料和石英。
  3. 另有一类物质的导电特性处于导体和绝缘体之间,称为半导体,如锗、硅、砷化镓和一些硫化物、氧化物等。

半导体的导电机理不同于其它物质,所以它具有不同于其它物质的特点。比如:

  • 当受外界热和光的作用时,它的导电能力明显变化。
  • 往纯净的半导体中掺入某些杂质,会使它的导电能力明显改变。

现代电子学中,用的最多的半导体是硅和锗,它们的最外层电子(价电子)都是四个。
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通过一定的工艺过程,可以将半导体制成晶体。完全纯净的、结构完整的半导体晶体,称为本征半导体。


硅和锗的晶体结构
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在硅和锗晶体中,原子按四角形系统组成晶体点阵,每个原子都处在正四面体的中心,而四个其它原子位于四面体的顶点,每个原子与其相临的原子之间形成共价键,共用一对价电子。


硅和锗的共价键结构
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  • 形成共价键后,每个原子的最外层电子是八个,构成稳定结构。
  • 共价键有很强的结合力,使原子规则排列,形成晶体。
  • 共价键中的两个电子被紧紧束缚在共价键中,称为束缚电子,常温下束缚电子很难脱离共价键成为自由电子,因此本征半导体中的自由电子很少,所以本征半导体的导电能力很弱。

本征半导体的导电机理
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在绝对0度(T=0K,相当于第一章 半导体器件 - 图5)和没有外界激发时,价电子完全被共价键束缚着,本征半导体中没有可以运动的带电粒子(即载流子),它的导电能力为0,相当于绝缘体。
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  • 在常温下,由于热激发,使一些价电子获得足够的能量而脱离共价键的束缚,成为自由电子,同时共价键上留下一个空位,称为空穴。
  • 在其它力的作用下,空穴吸引临近的电子来填补,这样的结果相当于空穴的迁移,而空穴的迁移相当于正电荷的移动,因此可以认为空穴是载流子。
  • 本征半导体中存在数量相等的两种载流子,即自由电子和空穴。
  • 本征半导体的导电能力取决于载流子的浓度。
  • 温度越高,载流子的浓度越高。因此本征半导体的导电能力越强,温度是影响半导体性能的一个重要的外部因素。

本征半导体的载流子浓度
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  • 半导体在热激发下产生自由电子和空穴对的现象称为本征激发。自由电子在运动中与空穴相遇就会填补空穴,使二者同时消失,这种现象称为复合。
  • 一定温度下,本征激发产生的自由电子和空穴对,与复合的自由电子和空穴对数目相等(两种载流子的浓度相等),达到动态平衡。
  • 理论分析表明:

第一章 半导体器件 - 图8
第一章 半导体器件 - 图9第一章 半导体器件 - 图10表示自由电子和空穴的 浓度(第一章 半导体器件 - 图11

  • 注意:

本征半导体的 导电性很差,且与环境密切相关。本征半导体的这种对温度的 敏感性,既可用来制作热敏和光敏器件,又是造成半导体器件温度稳定性差的原因。


1.1.2 杂质半导体

  • 在本征半导体中掺入某些微量的杂质,就会使半导体的导电性能发生显著变化。
  • 其原因是掺杂半导体的某种载流子浓度大大增加。
  • 使自由电子浓度大大增加的杂质半导体称为N型半导体(电子半导体),使空穴浓度大大增加的杂质半导体称为P型半导体(空穴半导体)。

N型半导体
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  • 在硅或锗晶体中掺入少量的五价元素磷(或锑),晶体点阵中的某些半导体原子被杂质取代,磷原子的最外层有五个价电子,其中四个与相临的半导体原子形成共价键,必定多出一个电子,这个电子几乎不受束缚,很容易被激发而成为自由电子,这样磷原子就成了不能移动的带正电的离子。每个磷原子给出一个电子,称为施主原子。
  • N型半导体中的载流子是什么?
    • 1、由施主原子提供的电子,浓度与施主原子相同。
    • 2、本征激发成对产生的电子和空穴。
    • 3、掺杂浓度远大于本征半导体中载流子浓度,所以,自由电子浓度远大于空穴浓度。自由电子称为多数载流子(多子),空穴称为少数载流子(少子)。

P型半导体
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  • 在硅或锗晶体中掺入少量的三价元素,如硼(或铟),晶体点阵中的某些半导体原子被杂质取代,硼原子的最外层有三个价电子,与相临的半导体原子形成共价键时,产生一个空穴。这个空穴可能吸引束缚电子来填补,使得硼原子成为不能移动的带负电的离子。由于硼原子接受电子,所以称为受主原子。
  • P型半导体中的载流子是什么?
    • 1、由受主原子提供的空穴,浓度与受主原子相同。
    • 2、本征半导体中成对产生的电子和空穴。
    • 3、掺杂浓度远大于本征半导体中载流子浓度,所以,空穴浓度远大于自由电子浓度。空穴称为多数载流子(多子),自由电子称为少数载流子(少子)。

总 结

  • 1、N型半导体中电子是多子,其中大部分是掺杂提供的电子,本征半导体中受激产生的电子只占少数。 N型半导体中空穴是少子,少子的迁移也能形成电流,由于数量的关系,起导电作用的主要是多子。近似认为多子与杂质浓度相等。
  • 2、P型半导体中空穴是多子,电子是少子。
    • 在杂质半导体中,多数载流子(多子)的浓度主要取决于掺入的杂质浓度,而少数载流子的浓度主要取决于温度的影响。

杂质半导体的示意表示法
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1.1.3 PN结及其单向导电性

一、 PN 结的形成

在同一片半导体基片上,分别制造P型半导体和N型半导体,经过载流子的扩散,在它们的交界面处就形成了PN结。

PN结处载流子的运动
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所以扩散和漂移这一对相反的运动最终达到平衡,相当于两个区之间没有电荷运动,空间电荷区的厚度固定不变。
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  • 空间电荷区内正负电荷相等,因此,当P区和N区杂质浓度相等时,正离子区和负离子区宽度相等,称为对称结
  • 当P区和N区杂质浓度不同时,浓度高一侧的 离子区宽度低于浓度低的一侧,称为不对称PN结。
  • 绝大部分空间电荷区内自由电子和空穴数目都非常少,在分析PN结特性时常忽略载流子的作用,只考虑离子区的电荷,这种方法称为“耗尽层近似”,故称空间电荷区为耗尽层。

注意

  • 1、空间电荷区中没有载流子。
  • 2、空间电荷区中内电场阻碍P中的空穴、N中的电子(都是多子)向对方运动(扩散运动)。
  • 3、P中的电子和N中的空穴(都是少子),数量有限,因此由它们形成的电流很小。

    二、PN结的单向导电性

  • 当外加电压使PN结中P区的电位高于N区的电位,称为加正向电压,简称正偏;反之称为加反向电压,简称反偏。

  • (1)PN结正向偏置

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  • 内电场被削弱,多子的扩散加强能够形成较大的扩散电流。
  • 低电阻
  • 大的正向扩散电流

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  • (2)PN结反向偏置

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  • 内电场被被加强,多子的扩散受抑制。少子漂移加强,但少子数量有限,只能形成较小的反向电流。
  • 在一定的温度条件下,由本征激发决定的少子浓度是一定的,故少子形成的漂移电流是恒定的,基本上与所加反向电压的大小无关,这个电流也称为反向饱和电流.
  • 高电阻
  • 很小的反向漂移电流

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  • PN结加正向电压时,呈现低电阻,具有较大的正向扩散电流;
  • PN结加反向电压时,呈现高电阻,具有很小的反向漂移电流。
  • 由此可以得出结论:PN结具有单向导电性。
  • (3)PN结V- I 特性表达式
    • 第一章 半导体器件 - 图22
    • 其中第一章 半导体器件 - 图23——反向饱和电流,第一章 半导体器件 - 图24 ——温度的电压当量,且在常温下(T=300K)第一章 半导体器件 - 图25

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1.2 二极管

1.2.1二极管的结构

在PN结上加上引线和封装,就成为一个二极管。二极管按结构分有点接触型、面接触型和平面型三大类。

  • (1) 点接触型二极管
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    • PN结面积小,结电容小,用于高频电路和小功率整流。
  • (2) 面接触型二极管
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    • PN结面积大,结电容大,一般为仅作为整流管。
  • (3) 平面型二极管
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    • 采用扩散法制成,往往用于集成电路制造工艺中。PN 结面积可大可小,用于高频整流和开关电路中。
  • (4) 二极管的代表符号
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  • 半导体二极管图片

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      1.2.2二极管的伏安特性

      一、与PN结伏安特性类似

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  • 正偏:体电阻、外引线——同样电压,I偏小

  • 反偏:表面漏电流——第一章 半导体器件 - 图35数值增大
  • 二极管的伏安特性表达式可用PN结伏安特性表达式表示:第一章 半导体器件 - 图36
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  • 二极管的等效电路
    • 伏安特性折线化image.png
    • 图a所示的折线画伏安特性表明,二极管导通时正向压降为零,截止时反向电流为零,称为理想二极管,相当于理想开关用空心的二极管符号来表示 。
    • 图b所示的折线法伏安特性表明,二极管导通时正向压降为一个常量第一章 半导体器件 - 图40,截止时反向电流为零,因而,等效电路是理想二极管串联电源电压源第一章 半导体器件 - 图41
    • 图c所示的折线化伏安特性表明,当二极管正向电压第一章 半导体器件 - 图42大于第一章 半导体器件 - 图43后,其电流I与U呈线性关系,直线斜率为一斜杠第一章 半导体器件 - 图44极管只是反向电流为零,因此,等效电路是理想二极管串联电压源第一章 半导体器件 - 图45和电阻第一章 半导体器件 - 图46,且第一章 半导体器件 - 图47
  • 二极管的微变等效电路

    • image.png
    • 第一章 半导体器件 - 图49
      • 分析直流——第一章 半导体器件 - 图50
      • 第一章 半导体器件 - 图51

        二、温度对二极管伏安特性的影响

  • 温度升高,正向特性左移,反向特性下移。

  • 室温附近,温度每升高1℃,正向压降减少2—2.5mV。
  • 室温附近,温度每升高10℃,反向电流增大一倍。

    1.2.3 二极管的参数

  • (1) 最大整流电流第一章 半导体器件 - 图52

  • (2) 反向击穿电压第一章 半导体器件 - 图53和最大反向工作电压第一章 半导体器件 - 图54
  • (3) 反向电流第一章 半导体器件 - 图55
  • (4) 最高工作频率第一章 半导体器件 - 图56
  • 主要参数说明
    • (1) 最大整流电流第一章 半导体器件 - 图57:二极管长期使用时,允许流过二极管的最大正向平均电流。
    • (2) 反向击穿电压第一章 半导体器件 - 图58和最大反向工作电压第一章 半导体器件 - 图59:二极管反向击穿时的电压值为第一章 半导体器件 - 图60。击穿时反向电流剧增,二极管的单向导电性被破坏,甚至过热而烧坏。最高反向工作电压第一章 半导体器件 - 图61一般是第一章 半导体器件 - 图62的一半。
    • (3) 反向电流第一章 半导体器件 - 图63:指二极管加反向峰值工作电压时的反向电流,此时二极管未被击穿。反向电流大,说明管子的单向导电性差,因此反向电流越小越好。反向电流受温度的影响,温度越高反向电流越大。硅管的反向电流较小,锗管的反向电流要大几十到几百倍。
    • (4) 最高工作频率第一章 半导体器件 - 图64:超过此值时,由于结电容的作用,二极管不能很好地体现单向导电性。
  • 以上均是二极管的直流参数,二极管的应用是主要利用它的单向导电性包括整流、限幅、保护等。下面介绍两个交流参数。

    1.2.4 稳压二极管

    1. 符号及稳压特性

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    利用二极管反向击穿特性实现稳压。稳压二极管稳压时工作在反向电击穿状态。

    2. 稳压二极管主要参数

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  • (1) 稳定电压第一章 半导体器件 - 图67:在规定的稳压管反向工作电流第一章 半导体器件 - 图68下,所对应的反向工作电压。

  • (2) 动态电阻第一章 半导体器件 - 图69:第一章 半导体器件 - 图70
  • (3)最大耗散功率第一章 半导体器件 - 图71
  • (4)最大稳定工作电流第一章 半导体器件 - 图72和最小稳定工作电流第一章 半导体器件 - 图73
  • (5)稳定电压温度系数——第一章 半导体器件 - 图74

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正常稳压时:第一章 半导体器件 - 图76,第一章 半导体器件 - 图77
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发光二极管(LED)

  • 可见光,不可见光,激光

光电二极管

  • 远红外线接收管

变容二极管

  • 电子调谐,频率的自动控制,调频调幅,调相和波率

隧道二极管

  • 震荡,过载保护,脉冲数字电路

肖特基二极管 微波混频,检测,集成化数字电路

1.3 双极型晶体管(BJT)

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结构特点:

  • 发射区的掺杂浓度最高;
  • 集电区掺杂浓度低于发射区,且面积大;
  • 基区很薄,一般在几个微米至几十个微米,且掺杂浓度最低。

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1.3.1 结构和类型

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1.3.2 晶体管的电流控制作用

  • 放大是对模拟信号最基本的处理。
  • 晶体管是放大电路的核心元件。

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晶体管内部载流子的运动

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要使三极管能放大电流,必须使发射结正偏,集电结反偏。
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  • 共射直流电流放大系数
  • 第一章 半导体器件 - 图90

  • 共射交流电流放大系数

  • 第一章 半导体器件 - 图91

  • 共基直流电流放大系数

  • 第一章 半导体器件 - 图92

  • 共基交流电流放大系数

  • 第一章 半导体器件 - 图93
  • 第一章 半导体器件 - 图94

    第一章 半导体器件 - 图95为共射直流电流放大倍数。 第一章 半导体器件 - 图96为穿透电流。物理意义是,当基极开路( IB=0)时,在集电极电源VCC作用下集电极和发射极之间形成的电流。 第一章 半导体器件 - 图97为发射极开路时,集电结的反向饱和电流。


  • 若有输入交流电压信号第一章 半导体器件 - 图98作用,则晶体管的基极电流在IB基础上叠加动态电流第一章 半导体器件 - 图99,集电极电流在第一章 半导体器件 - 图100基础上叠加动态电流第一章 半导体器件 - 图101第一章 半导体器件 - 图102第一章 半导体器件 - 图103之比为交流放大系数β
  • 第一章 半导体器件 - 图104
  • image.png
  • 若以发射极电流作为输入电流,以集电极电流作为输出电流,则定义第一章 半导体器件 - 图106第一章 半导体器件 - 图107之比为共基直流电流放大系数。
  • 第一章 半导体器件 - 图108
  • 共基交流电流放大系数:
  • 第一章 半导体器件 - 图109

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例: 分别判断图中所示各电路中晶体管是否有可能工作在放大状态。 image.png 例:已知两只晶体管的电流放大系数β分别为50和100,现测得放大电路中这两只管子两个电极的电流如图所示。分别求另一电极的电流,标出其实际方向,并在圆圈中画出管子。 image.png

1.3.3 晶体管的共射特性曲线

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  • 第一章 半导体器件 - 图114是发射结压降
  • 第一章 半导体器件 - 图115是管压降

    (1)输入特性

    第一章 半导体器件 - 图116
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    (2)输出特性

    第一章 半导体器件 - 图122
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1.3.4晶体管的主要参数

  1. 电流放大倍数第一章 半导体器件 - 图128
    1. 前面的电路中,三极管的发射极是输入输出的公共点,称为共射接法,相应地还有共基、共集接法。
    2. 共射直流电流放大倍数:第一章 半导体器件 - 图129
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    4. 工作于动态的三极管,真正的信号是叠加在直流上的交流信号。基极电流的变化量为第一章 半导体器件 - 图131,相应的集电极电流变化为第一章 半导体器件 - 图132,则交流电流放大倍数为:第一章 半导体器件 - 图133
  2. 集-基极反向饱和电流第一章 半导体器件 - 图134
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  3. 集-射极穿透电流第一章 半导体器件 - 图136
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    2. 第一章 半导体器件 - 图138
    3. 第一章 半导体器件 - 图139受温度影响很大,当温度上升时,第一章 半导体器件 - 图140增加很快,所以第一章 半导体器件 - 图141也相应增加。三极管的温度特性较差。**选管子时,第一章 半导体器件 - 图142第一章 半导体器件 - 图143应尽量小。**硅管的第一章 半导体器件 - 图144第一章 半导体器件 - 图145比锗管小,所以温度稳定性好。
  4. 集电极最大电流第一章 半导体器件 - 图146
    1. 集电极电流第一章 半导体器件 - 图147在一定范围内第一章 半导体器件 - 图148不变,但大到一定数值会导致三极管的第一章 半导体器件 - 图149值的下降,当第一章 半导体器件 - 图150值下降到正常值的三分之二时的集电极电流即为第一章 半导体器件 - 图151
  5. 集-射极反向击穿电压
    1. 晶体管的某一电极开路时,另两个电极间所允许加的最高反向电压即为极间反向击穿电压,超过此值的管子会发生击穿现象。
    2. 当集—-射极之间的电压第一章 半导体器件 - 图152超过一定的数值时,三极管就会被击穿。手册上给出的数值是25°C、基极开路时的击穿电压第一章 半导体器件 - 图153
  6. 集电极最大允许功耗第一章 半导体器件 - 图154
    1. 集电极电流IC流过三极管,所发出的焦耳热为:第一章 半导体器件 - 图155
    2. 必定导致结温上升,所以第一章 半导体器件 - 图156有限制。第一章 半导体器件 - 图157

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1.4 绝缘栅型场效应晶体管:

1.4.1基本结构和工作原理

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MOS管的工作原理 — — 以N沟道增强型为例
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1.4.2绝缘栅型场效应晶体管的特性曲线

以增强型N沟道MOS管为例
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以__耗尽型N沟道MOS管为例的特性曲线
耗尽型的MOS管第一章 半导体器件 - 图172时就有导电沟道,加反向电压才能夹断。
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1.4.3 绝缘栅型场效应晶体管的主要参数

  • (1)栅—源直流输入电阻第一章 半导体器件 - 图175
  • (2)栅一源击穿电压第一章 半导体器件 - 图176
  • (3)最大漏极电流第一章 半导体器件 - 图177和最大耗散功率第一章 半导体器件 - 图178
  • (4)低频跨导第一章 半导体器件 - 图179