alias: MLR,多层光刻胶,硅化学增强,Si-CARL,硅烷基化
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多层光刻胶工艺
为了得到既薄(可以提高分辨率)而又致密(保护下面的图形)的光刻胶层,采用多层光刻胶(MLR)技术。
多层光刻胶(MLR)技术:采用性质不同的多层光刻胶,分别利用其抗蚀性、平面平坦化等不同特性完成图形的转移。
在双层光刻胶工艺中,顶层光刻胶经过曝光和显影后形成曝光图形,在后续的刻蚀工艺中作为刻蚀掩蔽层;底层光刻胶用来在衬底上形成平坦化的平面,需要通过干法刻蚀(氧等离子刻蚀)去掉。
MLR工艺虽然有很多优点,但是增加了工艺的复杂性,不但降低了产量,而且可能增加缺陷和成本。
光刻胶图形的硅化学增强(Si-CARL)工艺
利用光刻胶中留下的硅与刻蚀气体中的氧,生成二氧化硅保护层
如下图所示,首先在硅片上甩上底层胶,保护衬底上的图形,在起伏的衬底上形成平坦化的光刻胶平面。
经过前烘之后,在底层胶上面再甩一层很薄的正胶,用来作为成像层。经过曝光和显影之后,在顶层胶中形成所需要的图形。顶层胶中含有酐,经过曝光后转化为羧酸,而非曝光区中的酐被保留下来。
然后将硅片浸入到带有氨基的硅氧烷溶液中,硅氧烷溶液中的氨基与未曝光的顶层胶中的酐反应,使硅氧烷中的硅原子保留在顶层胶中,顶层胶中约含有20%-30%的硅。
然后在氧气氛中进行干法刻蚀,顶层胶中的硅与氧反应,从面在顶层胶表面形成SiO2薄层。因此在刻蚀过程中,氧等离子只刻蚀没有被顶层保护的底层光刻胶。经过刻蚀之后,由顶层光刻胶保护的图形被保留下来,转移到底层光刻胶上去。
利用Si化学增强方法可以形成高宽比很大的图形,还可以形成分辨率小于0.25μm的图形。
![[A=PH=多层光刻胶工艺 image 1.png]]
对比增强层CEL
经过甩胶和前烘之后,在光刻胶上甩上一层CEL薄膜,CEL薄膜通常是不透明的,在投影曝光系统中,通过掩膜板,透光区的CEL在强光作用下变为透明,光线通过透明区的CEL并对下面的光刻胶曝光。在对光刻胶曝光的过程中,不透光的CEL可以吸收衍射的光线。
由于CEL是直接与光刻胶接触的,它的作用类似接触式曝光中的掩模版。因此,使用CEL就可以充分发挥投影曝光的优点,同时又达到接触式曝光的效果。
曝光之后,先通过湿法显影除去CEL,再对光刻胶进行显影。
![[A=PH=多层光刻胶工艺 image 2.png]]
硅烷基化光刻胶表面成像工艺
为了减少MLR所增加的工艺复杂性,选择性地将硅扩散到成像层中,称为扩散增强硅烷基化光刻胶工艺(DESIRE)。
扩散增强硅烷基化光刻胶工艺
①光刻胶DNQ曝光,DNQ分解,形成隐性图形。
②前烘,未曝光的DNQ形成交叉链接,不容易吸收硅。
③硅烷基化,高温下将基片放在含硅的HMDS或TMDS中烘烤,硅扩散进入到曝光区的光刻胶中。
④O2等离子体刻蚀,曝光区中的硅氧化形成抗刻蚀的二氧化硅,而未曝光的光刻胶被刻蚀。
![[A=PH=多层光刻胶工艺 image 3.png]]
由于是各向异性的刻蚀,光刻胶图形的垂直效果很好。通过DESIRE工艺形成的是负性的图形(曝光区留下)。
干法刻蚀正胶成像(PRIME)工艺
PRIME工艺能够选择性地形成正性的图形。
在曝光的过程中,曝光区的感光剂发生分解的同时形成交叉链接,交叉链接的深度可以达到30nm。
然后由UV辐照代替前烘。UV辐照可以使未曝光区的感光剂分解,从而可使硅扩散到这些未曝光的区域中,因此硅烷基化是在未曝光区进行的。
经过干法刻蚀光刻胶之后,就在光刻胶上形成了正性的掩膜图形。