在晶粒发生塑性变形时,取向会发生一定的改变,为了描述晶粒不同区域的变形程度,用户可点击主界面中“Orientation”->“Misorientation to Reference Orientation”选项,打开如图6-10左侧所示的界面,在此界面中,用户首先在左上角选择要分析的晶相,然后再“Relative to”列表中进行参考标准的选择,共有如下几种:
    (1)Grain mean orientation (GROD):绘制GROD取向差,即计算一个晶粒中所有扫描点相对于晶粒平均取向的取向差角;然而,如果晶粒中变形不均匀,则GROD的意义并不显著,而更有意义的是计算晶粒中所有扫描点相对于晶粒中变形量最小或其他参考标准的扫描点之间的取向差。
    (2)Min of EBSD property:即以每个晶粒中EBSD某个性质(即主界面表格中的某一列信息)的最小值对应的扫描点为标准,默认为kam,即以每个晶粒中kam最小的扫描点为标准,可认为该点的变形量是最小的;
    (3)Max of EBSD property:即以每个晶粒中EBSD某个性质(即主界面表格中的某一列信息)的最大值对应的扫描点为标准
    (4)Grain Border:晶粒边界,用户可以选择以晶粒的东,西,南,北四个方位处的扫描点作为参考进行取向差计算
    (5)Constant Orientation:固定取向。用户可以输入EBSD ID或者输入matlab workspace中的取向变量为参考取向,进行取向差计算。
    设置好参考点标准之后,点击“Calculate”进行计算。计算之后,用户可选择对取向差角(Misori Angle Distribution)或者取向差轴(Misori Axes Distribution)分布进行绘图。如图6-10右侧为每个晶粒参考其内部kam值最小点的取向差分布。如果勾选“Show Refer Point”则会同步在map中将参考点的位置标注出来。如果用户对取向差轴的分布感兴趣,则选择Misori Axes Distribution,然后选择在样品坐标系或晶体坐标系来分析轴的分布,轴的分布可以用颜色来表示(color map),比如在晶体坐标系,可用IPF key来表示。也可以将轴的分布用投影图(projection)表示。点击“Color Palette Settings”可对分布图颜色等进行修改。
    最后,用户可以点击“Save Data”,保存取向差角和轴的信息,也可以点击“Apply to EBSD Data”,则在主界面表格中会增加一列“mis2ref”,方便数据操作。
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    图6-10 取向差(相对参考取向)