1 代码流程

1. 使用mhal_adc_open初始化一个gpio为ADC
2. 使用mhal_adc_read读取信息
3. 每个系列的模组返回的数据可能不同，需要分别做各自的转换算法，详见本文第2节

2 各模组情况

2.1 汇总

No	芯片	编译命令	submodules		测试数据
			submodule	commit id
1	TG7100C	mdev不支持对此芯片执行-f操作，需要使用其他软件烧录固件 mdev build hal/adc/ emc3020	mxos	c2e3d9bb8dbc94778f7cb0dc991efce18e33b05b

2.2 TG7100C系列模组

• mhal_adc_read的返回值
  mhal_adc_read的返回值是0~4095，0就是0V，4095是3.3V
• 注意事项
  • 只测了EMC3020和EMC3029两个模组，看起来都是线性的，但只有各一个模组，多模组间的一致性还是有风险的。
  • 测试的时候用裸模组，如果模组在开发板上的话，引脚会被拉高或者拉低，测量会不准。

3 测试数据

mdev-ADC功能测试 - 20220928133409.xlsx

3.1 2022年9月28日测试EMC3020和EMC3029

测试思路

已知正常的ADC测量值与电压是线性关系
所以将3.3V分压取几个关键点测量可以基本证实ADC通道的可用性
用几个等额电阻串联，得到3.3V的几个1/8测量即可
综上，测试方法仅证明ADC通道的可用性，ADC通道的精度、一致性等其他纬度仍需做详细测试

测试方法

分别使用ADC通道测量电路中的3V3、GND以及串联电阻之间的数值

使用裸模组测试，开发板可能会将模组引脚连到其他地方

测试固件

以下五个固件可用于EMC3020和EMC3029
adc.chan0.all.zip
adc.chan1.all.zip
adc.chan2.all.zip
adc.chan4.all.zip
adc.chan10.all.zip

测试结果

mdev-ADC功能测试 - 20220928133409.xlsx